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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 分析儀器 > 電子能譜儀 > MINICMA™美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀
簡(jiǎn)要描述：美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀MINICMA™對(duì)固體表面進(jìn)行微區(qū)成份分析及元素分布。可應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、冶金、地質(zhì)等部門。
產(chǎn)品型號(hào)：MINICMA™廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-12-10訪 問(wèn) 量：657
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
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美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀MINICMA™
Analyzer / electron spectrum MINICMA™ 分析器/電子譜minicma™
Characteristics
特點(diǎn)
Measured value:
測(cè)量值：
electron spectrum
電子譜
美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀Description
描述
Performance Features
性能特點(diǎn)
Mounting on 2.75″ (70 mm) flange
安裝在2.75“（70毫米）的法蘭
Retractable with linear motion feedthrough
可伸縮的線性運(yùn)動(dòng)的饋通
General electron energy analysis including Auger and Photoelectron spectroscopy
包括俄歇和光電子能譜的一般電子能量分析
Double-pass optics with energy resolution better than 1.5
雙通光學(xué)與能量分辨率優(yōu)于1.5
Ideal for experiments not accessible by conventional bulky analyzers
理想的實(shí)驗(yàn)不可訪問(wèn)的常規(guī)笨重的分析儀
Combine with the RVL2000 LEED optics for a low-cost, high-performance LEED/Auger system
結(jié)合低成本的高性能光學(xué)rvl2000 LEED，LEED /鉆系統(tǒng)
電子能譜儀：對(duì)固體表面進(jìn)行微區(qū)成份分析及元素分布。可應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、冶金、地質(zhì)等部門。
電子能譜儀是利用光電效應(yīng)測(cè)出光電子的動(dòng)能及其數(shù)量的關(guān)系，由此來(lái)判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態(tài)、原子周圍的狀況及分子結(jié)構(gòu)，在表面化學(xué)分析、分子結(jié)構(gòu)、催化劑、新材料等研究領(lǐng)域中已得到應(yīng)用。
電子能譜儀主要用途：1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無(wú)機(jī)或有機(jī)固體材料分析；2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；3、可對(duì)固體材料的表面涂層、鍍層進(jìn)行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測(cè)；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領(lǐng)域；5、進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點(diǎn)分布分析。
Analyzer / electron spectrum MINICMA™ 分析器/電子譜minicma™
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